由于存在复杂的强电磁噪声干扰，基于印制电路板的静电放电测试过程存在可重复率低、失真度高、难度大等问题。构建了一种简易的静电放电测试台架，重点研究微带线在导体传导途径中所引发的静电放电电压耦合现象的可测量性，并通过与仿真数据的对比，验证了该测试方法的可靠性，从而有助于提高电子产品设计研发阶段的静电放电评估工作的效率。

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