静电放电(ESD) 软失效会导致电子产品可靠性变差，产生后续功能性失效。针对这一设计前期难以预测的问题，提出单端系统时钟信号的ESD 软失效分析方案，通过计算机系统技术(CST) 仿真拟定软失效发生的电流阈值，从而预测软失效发生的可能性。该方案可以在设计前期预测ESD 软失效发生的可能性，减少设计修改时间，节约成本，提高研发效率。

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