摘要 分析了用TEM室进行射频辐射抗扰度试验时遇到的两个问题，即受试设备处于什么位置时会出现最大耦合和当受试设备发生故障时骚扰信号是以何种途径耦合进入受试设备的，并给出了相应的解决办法。
关键词 横电磁波室； 受试设备； 射频辐射
Abstract  Because of the TEM’s superiority, it is used for immunity test, but we often
encounter two problems in testing, this paper analyses the two problems and 
recommends method overcoming the two problems.
Keywords  TEM cell；  EUT ； RF radiation

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