论传导抗扰度测试配置模型的充要条件(上)
Analysis on the Sufficient and Necessary Conditions for
Configuration Model of Conducted Immunity Test(Part 1)
摘要 通过对GB/T17626.6-2008版相对于旧版标准在测试配置上的差异比较,从测试配置模型的最初建立到标准版本的升级发展过程阐述了差异的潜在原因,又从模型原理及配置元件作用角度,对注入电流法中的端口、电缆系统、注入信号的单位及电平校准电路存在的诸多认识,进行了讨论。最后指出了08版在配置上的错误要求,提出了150 Ω环境下普遍适用的测试配置完备系统的充要条件。
关键词 传导抗扰度;150 Ω环境;配置模型;端口阻抗;电缆阻抗
Abstract Based on the comparison of test configuration between GB/T 17626. 6-2008
and its previous version with analysis of upgrading process of the standard, the
potential causes of those differences are illustrated. Some comprehensions on ports of
injection current method, cable system, unit of injection signal, and calibration circuit
are discussed from different standpoints. At last, some faults on the configuration
requirements are proposed with the sufficient and necessary conditions of universal
m 150 Ω test system.
Keywords conducted immunity;150 Ω test environment;configuration model;
port independent;cable impedance
本期目录
- 电磁防护材料性能的评价方法 ...
- 螺旋结构人工电磁媒质的优化设计...
- 新版GB 14023...
- 解读1~40 GHz...
- SVSWR测试中天线对有效测试...
- 直插式电器插头测试项目探讨 ...
- 欧盟电动汽车技术法规研究 <...
-
电信设备的OFTA认证
- 电源浪涌保护电路的正确运用 ...
- 石化电气工程浪涌保护器的应用 ...
-
电磁脉冲易损性分析方法
- MIL-STD-461F:20...
- 论传导抗扰度测试配置模型的充要...
- 《电磁兼容标准实施指南(修订版...
-
外部干扰的抑制(一)
- 新技术驱动雷击测试标准的发展 ...
- 2011年ITU-T ...
- IEC TC&nbs...
- 2011年亚太电磁兼容国际学术...
- 2011 APEMC...
- 关于IEC 6059...