一套理想的 EMC 测量系统，应该在每次对同一个符合稳定性要求的质控样品进行测试时，只产生“正确”的测量结果，而且随着时间的推移，测量结果也不会发生偏离，始终保持稳定状态。针对 EMC 测量系统，探讨如何利用统计过程控制技术（SPC 技术），结合 MINITAB 软件来识别 EMC 测量系统的性能偏离。着重介绍了预控制图、I-MR 控制图和X -S 控制图三种控制图的具体应用，为 EMC 检测实验室的日常质量控制提供参考。

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