随着设备功率密度和可靠性要求的不断提升，设备电气外壳应设计孔缝以解决散热和电磁屏蔽问题。为了优化孔缝结构和位置，需在设计过程中计算和预测电气外壳屏蔽效能。针对现有屏蔽效能分析方法误差较大等问题，先建立了基于电磁拓扑理论 BLT 方程的带孔外壳屏蔽效能等效模型，并提出了基于进化卷积神经网络的屏蔽效能参数提取方法，再以外壳屏蔽效能部分频点结果作为模型输入，提取屏蔽效能模型参数，最后根据模型计算其它频点的外壳屏蔽效能。对比分析结果表明，文中方法能够实现带孔缝外壳屏蔽效能预测，误差小于 10 dB 且不受外壳结构、孔缝位置和屏蔽材料参数影响。

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