当前位置: 首页/ 各期目录/ 文章详情
来源: 《安全与电磁兼容》2002年第1期 作者:张跃亭(34)

信息技术设备发热试验浅谈


Discussion on heating test of information technology equipment
摘要  本文论述了信息技术设备正常工作时,影响设备及其零部件温度或温升的有关因素,以及如何准确完成发热试验。
关键词  发热试验  正常负载  温度或温升
Abstract  For information technology equipment in normal use, related factors that 
affect temperature or temperature rise of the equipment parts, and methods to 
conduct the heating test accurately are discussed in this paper.
Keywords  heating test, normal load, temperature or temperature rise

网站会员需要登录才能在线预览,点我登录。

如何成为网站会员>>