The study of Coupling Experiment about Interface of Microcomputer Under 
Electromagnetic Pulse
摘要 受EMP照射的微机系统，当EMP场强达到一定数值时，其设备接口电路上即产生过电压或过电流，从而使设备受到干扰或损伤。本文设计了一种电信的微机并行接口单片机电路实验模型，介绍了该接口电路电磁脉冲耦合电压和耦合电流的测量方法，并对测得的数据进行了分析，得到了这类典型接口电流受到瞬时干扰和永久性损伤的电脉冲场强阈值。
关键词 电磁脉冲 微机 接口电路 耦合 损伤
Abstract  Run under electromagnetic pulse (EMP), microcomputer can have over-voltage
or over-current in its interface circuit when EMP’s intensity reach to certain value, and
get interfered or damaged. In this paper, atypical single-chip circuit is designed to
simulate parallel interface of microcomputer, and a way of measuring coupling voltage
and current is introduced. The measured data is analyzed, then the electromagnetic
intensify peak value which causes transient and permanent failure of typical interface
circuit is obtained.
Keywords  EMP, interface circuit, couple, failure

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