摘要 提出了一种电子设备抗强射频干扰门限的确定方法，并设计了电磁干扰路径中前 / 后门耦合的验 证实验，建立了设备性能参量与电磁环境的关系式，进而由设备性能要求门限确定强射频电磁环境中 电子设备的抗干扰门限，证明了该方法的有效性和正确性。降低了试验室电磁环境模拟的要求，可为 GJB 1389A-2005 中电子设备敏感机理以及环境限值意义等的研究提供借鉴。

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