从本地化有源电磁辐射和电路结构边缘对于外场扰动的角度出发,提出一种本地化电磁危害(Localized Electromagnetic Hazards—LEH)的新概念。基于相关模型的分析可知,LEH不仅存在,而且对于电子系统、微电子系统中的板级和超大规模集成电路(VLSI)等有显著的相关和非相关电路效应。 

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