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《安全与电磁兼容》2017年第5期
作者:雷震;蒋全兴;
屏蔽盖腔间屏蔽效能的影响因素
提出了一种针对扁平屏蔽腔的屏蔽效能测试方法,并研究了腔间开孔大小、螺钉间距和点胶与否三个因素对屏蔽效能的影响。结果表明:屏蔽盖腔间开孔是导致屏蔽效能下降的最大因素;随着螺钉间距加密屏蔽效能显著提升;要获得大于70 d B的腔间屏蔽效能,推荐采用隔筋点胶。
本期目录
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