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《安全与电磁兼容》2017年第4期
作者:雷震;蒋全兴;
导电硅胶屏蔽效能长期可靠性试验研究
为了缩短试验时间、量化不同环境条件下导电硅胶屏蔽效能随时间的变化趋势,采用加速老化试验方法,对导电硅胶进行高温高湿强化环境试验,获得导电硅胶屏蔽效能下降趋势,进而预测在不同自然环境中更长时间轴上导电硅胶的屏蔽效能。结果表明,1 000小时的加速试验等效约15.53年,导电硅胶的屏蔽效能下降约20 dB。
本期目录
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