来源:
《安全与电磁兼容》2020年第6期
作者:
2019 IEEE EMC & SIPI 国际会议 ——提名文章(三)
摘要:在瞬态测试过程中,很难确定具体的某个元件或 耦合路径产生软故障的原因。部分原因是元件隐藏在产 品内部深处,在瞬态测试过程中,测量内部电压或电流 可能不切实际。为了解决这一问题,设计了一种紧凑型 传感器,用于测量瞬态电磁事件中轨迹或引脚上的峰值 过电压或欠电压。该传感器被设计成使用调频电场和磁 场,将瞬态电磁事件的峰值,无线传输到被测设备外部 的接收器,这样就不需要对系统进行布线或其他更改。 并在集成电路(IC)中得到验证,说明该传感器可测量 瞬态事件的峰值水平。通过脉冲发生器直接将瞬态电流 注入传感器,验证了传感器检测的可行性。该传感器还 可用于检测USB 电缆上的峰值电压和振荡频率。
本期目录
- 集成电路技术发展对 电磁兼容的影响
- 5G 基站的电磁特性检测
- 浪涌防护电路方案的设计与验证
- 防强电磁冲击的某舰炮武器EMC...
- CISPR 发射测量中测量仪器...
- IEC/TC108 2020 ...
- 电动汽车DC-DC 控制器传导...
- 某型天线倒伏装置的RE102 ...
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- VPX 机箱的电磁防护设计及测试整改
- 混响室“Z&rdq...
- 电源与地平面间谐振电压噪声和阻...
- 照明设备认证之谐波电流检测实例分析
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- 智能网联汽车频率共存性问题初探
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- 大功率电机RE 测试用高速穿墙...
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