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2019 IEEE EMC & SIPI 国际会议 ——提名文章(三)


摘要:在瞬态测试过程中,很难确定具体的某个元件或 耦合路径产生软故障的原因。部分原因是元件隐藏在产 品内部深处,在瞬态测试过程中,测量内部电压或电流 可能不切实际。为了解决这一问题,设计了一种紧凑型 传感器,用于测量瞬态电磁事件中轨迹或引脚上的峰值 过电压或欠电压。该传感器被设计成使用调频电场和磁 场,将瞬态电磁事件的峰值,无线传输到被测设备外部 的接收器,这样就不需要对系统进行布线或其他更改。 并在集成电路(IC)中得到验证,说明该传感器可测量 瞬态事件的峰值水平。通过脉冲发生器直接将瞬态电流 注入传感器,验证了传感器检测的可行性。该传感器还 可用于检测USB 电缆上的峰值电压和振荡频率。

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