低噪声放大器是射频前端电路中非常敏感的部分，易受到强电磁环境辐射经天线耦合所产生大电压 / 电流的影响，出现性能降级甚至损伤击穿等问题。文章以典型低噪声放大器作为研究对象，分别采用连续波和脉冲波信号对低噪声放大器开展注入损伤试验，以其增益作为主要参考参数，研究了低噪声放大器的注入损伤效应。分析了注入信号中心频率、脉冲重复频率和脉冲宽度等参数对低噪声放大器的损伤阈值的影响，旨在为射频电路器件级的电磁安全防护提供参考。

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