纳米技术与集成电路的发展，使电子设备性能不断增强的同时也使其敏感度随之增高，由静电放电（ESD）引起的危害也越来越多，严重影响电子设备的安全性与可靠性。文章阐述了静电放电的特点及产生原因，并对静电放电干扰原理、干扰途径与相关标准进行了简单解析。根据实践经验，给出了几种简单高效的静电防护方法。针对某通信产品在静电放电试验中发生的故障现象，结合以往经验，给出了初步定位，之后从设置等电位地、减小回路面积、提高抗干扰能力、增强屏蔽性能等方面给出具体的整改措施，并通过试验验证了措施的有效性。

网站会员需要登录才能在线预览，点我登录。

如何成为网站会员>>