摘要：CISPR及IEC标准给出的电子设备辐射发射测试方法都是在规定数量的采样点中找到最大发射电场强度。这导致采样点数量不足以找到真正的场强最大值,对于无意发射更是如此。虽然根据辐射总功率大小,采用随机方法可以推导出最大电场强度值,但在1 GHz以上且不使用混响室时,计算辐射总功率非常耗时。作者介绍了一种基于交替检验法的标准采样法,可用更少的采样点预测无意发射的最大电场强度值。

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